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淺析鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)原則
日期：2019-02-20瀏覽：1839次
為了提高鐵電材料性能測(cè)試設(shè)備的集成度、重復(fù)性和極化安全性，鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)原則和思路，主要包括極化裝置的設(shè)計(jì)與加工、積分放大電路的設(shè)計(jì)、硬件之間的連接、分析軟件的編寫、軟硬件之間的通訊等。實(shí)現(xiàn)在不同溫度點(diǎn)下，封閉式安全極化及電滯回線的數(shù)據(jù)采集與處理。*中檔產(chǎn)品的空白,造價(jià)是設(shè)備的1/3，但精度相當(dāng)。
本公司工程師利用數(shù)字存儲(chǔ)示波器研制了一套鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)，完成了對(duì)鐵電材料電滯回線的測(cè)量、存儲(chǔ)、顯示、編輯、打印和電性能參數(shù)的計(jì)算等功能。
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)?是一臺(tái)測(cè)試儀，它綜合了頻率響應(yīng)、電壓范圍和精度于一體。系統(tǒng)配有一個(gè)快速的遲滯額定頻率250kHz的+ / - 10v，使得薄膜和散裝陶瓷的測(cè)試變得快速和簡單。
無需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IC和IV的測(cè)試。配備額外的模塊，可實(shí)現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測(cè)試。
